IC・電子部品の緊急調達ならアロマン株式会社

TEL.044-934-0034

受付時間 9:00〜17:30(土日祝除く)

●解析サービス

半導体・電子部品の各種解析検査サービスのご案内

アロマンでは、半導体・電子部品の緊急調達における市場流通在庫品に対して、非破壊検査のサービスをご提供しております。
製品のご注文と併せてご利用の他に他社よりご購入した製品につきましても、ご対応可能ですのでお気軽にお問い合わせください。

アロマンでは、半導体・電子部品の緊急調達における市場流通在庫品に対して、非破壊検査のサービスをご提供しております。
製品のご注文と併せてご利用の他に他社よりご購入した製品につきましても、ご対応可能ですのでお気軽にお問い合わせください。

検査項目 検査内容 検査装置
外観検査 マイクロスコープ パッケージ・捺印・端子リードの観察
(傷、変形、欠け、汚れ、リマーク、フォント、クラック、変色、曲がり、腐食、ボール潰れ、半田溶解の有無など)
X線検査 X線透過装置 X線透過による内部観察
(リードフレーム形状の観察、チップサイズ、ボンディングワイヤー状態の確認)
蛍光X線検査 蛍光X線装置 RoHS指令対象6物質のスクリーニング検査
(ICの場合、モールド・リードの2ヶ所検査)
電気的特性検査 カーブトレーサ 2端子間のI-V特性の観察
(トランジスタ特性、ダイオード特性、Open/Short)
※元素分析検査 レーザ元素分析装置
(レーザ誘起ブレークダウン分光法)
・異物分析:試料表面(メッキなど)の構成元素の特定
・多層分析:試料の階層構成元素の特定
・多点分析:試料表面の構成元素を複数個所同時に特定
自動外観検査 外観検査装置 各種パッケージ(SOP, QFP, BGA, LGA, QFNなど)の端子形状の観察 ※JEDECトレイ個装に限る
•リード : 変形、欠損、平坦度
•ボール : 潰れ、欠落、平坦度
•リードレス : 欠損、平坦度
その他 グループ会社、協力会社にて対応させていただきます。
(ご依頼内容にて有償対応になります)
・マイコン、PLD、メモリーのブランクチェック
・半田濡れ性確認
・IC、LSIのパッケージ開封にてチップ観察

※各種検査結果につきましては、検査報告書をご発行いたします。

検査機器

外観検査
光学顕微鏡
●型 番 :
DSZT-70IFL
●製造元 :
カートン光学株式会社
DSZT-70IFL
ズーム型実体顕微鏡
●型 番 :
LW-830T
●製造元 :
株式会社 レイマー
LW-830T
デジタルマイクロスコープ
●型 番 :
VHX-8000
●製造元 :
株式会社 キーエンス
VHX-8000
外観検査機
●型 番 :
LI700E
●製造元 :
株式会社 安永
LI700E
X線透過(非破壊検査)
X線非破壊検査装置
●型 番 :
SMX-1000L Plus
●製造元 :
株式会社 島津製作所
SMX-1000L Plus
蛍光X線分析
蛍光X線分析装置
●型 番 :
EA1400
●製造元 :
株式会社 日立ハイテクサイセンス
EA1400
元素分析(レーザー誘起ブレークダウン分光法)
レーザー元素分析ヘッド
●型 番 :
VHX-8000+EA-300
●製造元 :
株式会社 キーエンス
VHDX-8000+EA-300
電気的特性
カーブトレーサー
●型 番 :
CS-3200
●製造元 :
岩崎通信機株式会社
CS-3200
その他の検査機器
プログラムリーダーライター
●型 番 :
BeeProg2
●製造元 :
エルネック・ジャパン株式会社
BeeProg2
直流安定化電源
●型 番 :
PR36-3A
●製造元 :
株式会社 テクシオ・テクノロジー
PR36-3A
個数はかり
●型 番 :
CUXⅡ-600A
●製造元 :
新光電子株式会社
CUXⅡ-600A
デジタルマルチメーター
●型 番 :
DT4281
●製造元 :
日置電機株式会社
DT4281